SZT-C型四探針測試臺
?操作使用說明書
一 、功能與結構特征概述
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???? 基本功能:SZT-C型四探針測試臺,是用來裝夾四探針探頭,連接四探針測試儀器,放置樣品,進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻(方阻)儀器的配套測量裝置(以下簡稱測試臺)。
????? 基本組成:主要有載物臺(180mmX180mm凈載物面積)、雙軌垂直導向單元、測試壓力調節單元、探頭快速升降扳手(頂部戴紅套部分)、探頭連接板等單元。
????? 配套與兼容:本測試臺可選配本公司所有型號的四探針測試探頭,包括鎢針四探針探頭(測試硬質樣品用),鍍金合金探頭(測試柔性薄膜或涂層方阻專用);本測試臺兼容本公司所有四探針測試儀器。本測試臺加配本公司探頭,可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
二、可測半導體材料尺寸 ?(探頭手持方式不限)
??? 直徑或邊長:SZT-C測試臺直接測試方式 Φ15~180mm,或180mm×180mm。
長(或高)度:? 測試臺直接測試方式 H≤160mm,? ??其他方式不限.
??? 測量方位:? 軸向、徑向均可
三 、使用方法
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五、聯系方式:18914021918/0512-80973697?? ??QQ:1064887318 丁先生 |