SZT-C型四探針測試臺
?操作使用說明書
一 、功能與結構特征概述
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???? 基本功能：SZT-C型四探針測試臺，是用來裝夾四探針探頭，連接四探針測試儀器，放置樣品，進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻（方阻）儀器的配套測量裝置（以下簡稱測試臺）。
????? 基本組成：主要有載物臺(180mmX180mm凈載物面積)、雙軌垂直導向單元、測試壓力調節單元、探頭快速升降扳手(頂部戴紅套部分)、探頭連接板等單元。
????? 配套與兼容：本測試臺可選配本公司所有型號的四探針測試探頭，包括鎢針四探針探頭（測試硬質樣品用），鍍金合金探頭（測試柔性薄膜或涂層方阻專用）；本測試臺兼容本公司所有四探針測試儀器。本測試臺加配本公司探頭，可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
二、可測半導體材料尺寸 ?（探頭手持方式不限）
??? 直徑或邊長:SZT-C測試臺直接測試方式 Φ15～180mm，或180mm×180mm。
長(或高)度：? 測試臺直接測試方式 H≤160mm,? ??其他方式不限.
??? 測量方位：? 軸向、徑向均可
三 、使用方法
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五、聯系方式：18914021918/0512-80973697?? ??QQ:1064887318 丁先生 |
